Numune Hazırlama Ekipmanları

Cross Section Polisher™ (CP) Cross Section Polisher™ (CP), elektron mikroskobu analizleri için numunelerin kesit hazırlanmasında kullanılan bir cihazdır. Kesit hazırlama işlemi iyon demeti ile gerçekleştirildiğinden, deneyim gerektiren mekanik parlatma yöntemlerine kıyasla daha kısa sürede, kullanıcıdan bağımsız ve yüksek kaliteli kesitler elde edilmesini sağlar. Farklı fonksiyonel numune tutucuları sayesinde cihaz yalnızca kesit hazırlama (cross section milling) değil, aynı zamanda yüzey iyon parlatma (planar ion milling) ve iyon demeti ile kaplama (ion beam sputter coating) işlemlerini de gerçekleştirebilir. Ayrıca, ısıya duyarlı numunelerin güvenli şekilde hazırlanabilmesi için soğutmalı (cooling type) Cross Section Polisher seçeneği de sunulmaktadır.