Ürün Genel Bakış
Karmaşık, çok katmanlı elektronik kart kalitesini dilimlemeden CT kalitesinde inceleme sonuçları sağlar. Hızlı ve kullanıcı dostu bir süreçte, ilgilenilen bölgede herhangi bir yönde sanal mikroskoplar oluşturur. X.Tract, katmanlı bileşenlerin 2D X-ışını görüntülerinde gizlenen kusurları ortaya çıkarır.
Daha Fazla Bilgi
İletişime Geçin