Ürün Genel Bakış
JEM-F200, alan emisyonlu bir transmisyon elektron mikroskobudur. Çok amaçlı kullanım için tasarlanmış sezgisel kullanıcı arayüzü ile birlikte yüksek uzaysal çözünürlük ve gelişmiş analitik performans özellikleri sunar.
Ürün Öne Çıkan Özellikleri
Yüksekten Düşüğe İvmelendirme Voltajlarında Yüksek Çözünürlüklü TEM/STEM Gözlemleri
JEM-F200, yüksek kararlılık, yüksek parlaklık ve yüksek enerji çözünürlüğü (<0,33 eV) sağlayan soğuk alan emisyonlu elektron tabancası (Cold Field Emission Gun – Cold FEG) ile donatılmıştır.
Bu elektron tabancası, elektron kaynağındaki enerji yayılımından kaynaklanan kromatik aberasyonları en aza indirerek daha yüksek çözünürlüklü görüntüleme performansı sunar.
Ayrıca, JEOL’un 10 yılı aşkın mühendislik ve tasarım deneyiminin sisteme entegre edilmesi sayesinde, cihazın mekanik ve elektriksel kararlılığı önemli ölçüde artırılmıştır.
Yüksek Hızlı ve Yüksek Hassasiyetli EDS Analizi
JEM-F200, aynı anda iki adet geniş alanlı Silikon Sürüklenme Dedektörü (Silicon Drift Detector – SDD) ile donatılabilir ve bu sayede yüksek hassasiyetli element analizi gerçekleştirir.
Geniş dedektör alanı ve yüksek algılama hassasiyeti sayesinde, EDS analizleri daha kısa sürede tamamlanırken numune üzerindeki ışın hasarı da en aza indirilir.
Bunun yanı sıra, EDS haritalama sırasında canlı STEM görüntüleri kullanılarak gerçekleştirilen yüksek hızlı ve kayıpsız sürüklenme (drift) düzeltmesi, daha verimli ölçümler yapılmasını sağlarken elektron demetinin numune üzerinde oluşturduğu hasarı azaltır.
Yüksek Enerji Çözünürlüğü ile EELS Analizi
JEM-F200'ün Soğuk Alan Emisyonlu Elektron Tabancası (Cold FEG), Schottky alan emisyonlu elektron tabancalarına kıyasla daha yüksek enerji çözünürlüğü sunarak kimyasal bağ durumları ve elektronik yapının ayrıntılı analizine olanak tanır.
Bu performans, EELS (Elektron Enerji Kayıp Spektroskopisi) opsiyonu ile birlikte 0,33 eV'nin altında enerji çözünürlüğü sağlayan Cold FEG teknolojisi sayesinde elde edilir.
Yeni Başlayanlar İçin Kolay ve Konforlu Kullanım
JEM-F200, kullanıcı dostu bir deneyim sunmak amacıyla geliştirilmiş sezgisel bir kullanıcı arayüzüne sahiptir.
Hem TEM hem de STEM modları için kapsamlı otomatik fonksiyonlar sunarak, yeni kullanıcıların sistemi kolayca kullanabilmesini sağlar.
Numune tutucularının güvenli ve kolay şekilde takılıp çıkarılması için SPECPORTER™ sistemi entegre edilmiştir. Bu sistem, numune tutucusunun otomatik ve güvenli şekilde yüklenmesini sağlar.
Ayrıca numune tablası, piezo sürücü mekanizmasına ihtiyaç duymadan pikometre düzeyinde hassas hareket sağlayan Pico Stage ile donatılmıştır. Böylece tüm numune ağının görüntülenmesinden atomik çözünürlüklü görüntülemeye kadar geniş bir görüş alanında hassas konumlandırma yapılabilir.
Otomatik Fonksiyonlar
Otomatik kazanç ve ofset ayarı (Automatic Gain & Offset)
Otomatik odaklama (Automatic Focus)
Otomatik astigmatizma düzeltmesi (Automatic Astigmatism Correction)
FIB Numune Hazırlamadan TEM/STEM Görüntülemeye Kesintisiz İş Akışı
JEM-F200, FIB (Odaklanmış İyon Demeti) ile numune hazırlama sürecinden TEM/STEM görüntülemeye kadar kesintisiz ve verimli bir iş akışı sunar.
Çift eğimli (double tilt) kartuş ve özel TEM numune tutucusu, FIB ile TEM işlemleri arasında kolay ve güvenilir geçiş yapılmasını sağlar.
Kartuş, FIB tutucusu ile TEM numune tutucusu arasında tek dokunuşla aktarılabilir. Böylece işlem sonrasında TEM lamellasının manuel olarak tutulması veya taşınması gerekmez, bu da numune hasarı ve kontaminasyon riskini azaltırken çalışma verimliliğini artırır.
Sürdürülebilir Bir Gelecek İçin Transmisyon Elektron Mikroskobu
JEM-F200, ECO Modunu standart olarak sunan ilk transmisyon elektron mikroskobudur. Bu mod, cihaz kullanılmadığı zamanlarda sistemi minimum enerji tüketimiyle çalışır durumda tutarak enerji tasarrufu sağlar.
ECO Modu etkinleştirildiğinde, enerji tüketimi normal çalışma moduna kıyasla yaklaşık beşte bire düşer. Böylece işletme maliyetleri azaltılırken daha sürdürülebilir ve çevre dostu laboratuvar uygulamalarına katkı sağlanır.
Ayrıca cihaz, zamanlama (schedule) fonksiyonuna sahiptir. Bu özellik sayesinde JEM-F200, belirlenen tarih ve saatte ECO Modundan otomatik olarak çıkarak kullanıma hazır hâle gelir, böylece kullanıcılar bekleme süresi olmadan çalışmaya başlayabilir.
Teknik Özellikler
Özellik | Ultra Yüksek Çözünürlük | Yüksek Çözünürlük |
|---|---|---|
TEM Çözünürlüğü (200 kV) | Nokta çözünürlüğü: 0,19 nmKafes çözünürlüğü: 0,10 nmBilgi limiti: ≤0,11 nm (Cold FEG)≤0,12 nm (Schottky FEG) | Nokta çözünürlüğü: 0,23 nmKafes çözünürlüğü: 0,10 nmBilgi limiti: ≤0,11 nm (Cold FEG)≤0,12 nm (Schottky FEG) |
STEM Çözünürlüğü (200 kV) | HAADF-STEM görüntüsü:0,14 nm (Cold FEG)0,16 nm (Schottky FEG) | HAADF-STEM görüntüsü:0,14 nm (Cold FEG)0,16 nm (Schottky FEG) |
Elektron Tabancası | Cold Field Emission Gun (Cold FEG) veya Schottky Tipi Alan Emisyonlu Elektron Tabancası | Cold Field Emission Gun (Cold FEG) veya Schottky Tipi Alan Emisyonlu Elektron Tabancası |
İvmelendirme Voltajı | 20 kV – 200 kVStandart: 80 kV ve 200 kVOpsiyonel: Diğer ivmelendirme voltajları | 20 kV – 200 kVStandart: 80 kV ve 200 kVOpsiyonel: Diğer ivmelendirme voltajları |
Numune Hareketi* | X, Y: ±1,0 mmZ: ±0,1 mm | X, Y: ±1,0 mmZ: ±0,2 mm |
Numune Eğim Açısı* | TX/TY (Çift eğimli tutucu): ±25° / ±25°TX (Yüksek eğimli tutucu): ±60° | TX/TY (Çift eğimli tutucu): ±35° / ±30°TX (Yüksek eğimli tutucu): ±80° |
Başlıca Opsiyonlar | Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS), Elektron Enerji Kayıp Spektroskopisi (EELS), Dijital Kamera, TEM/STEM/EDS Tomografi Sistemi | Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS), Elektron Enerji Kayıp Spektroskopisi (EELS), Dijital Kamera, TEM/STEM/EDS Tomografi Sistemi |
* Numune hareket aralığı; kullanılan numune tutucu tipine ve objektif diyaframının (objective aperture) takılı olup olmamasına bağlı olarak değişebilir.
Ürün Videoları
Cihazın çalışma yapısını, kullanım yaklaşımını ve örnek senaryoları videolar üzerinden inceleyin.
Ürün Broşürleri
Teknik özetleri, ürün tanıtımlarını ve indirilebilir broşürleri bu alandan görüntüleyebilirsiniz.
