Jeol JEM-120i TEM Transmisyon Elektron Mikroskobu

Ürün Genel Özellikleri

Her Kullanıcı İçin Pratik ve Güçlü Bir Araç

120 kV ivmelendirme voltajına sahip Transmisyon Elektron Mikroskopları (TEM), özellikle biyoloji, polimer bilimi ve diğer yumuşak malzeme uygulamalarında yaygın olarak kullanılmaktadır.

JEM-120i, "Kompakt", "Kullanımı Kolay" ve "Genişletilebilir" tasarım anlayışıyla geliştirilmiştir. Yenilenen dış tasarımı ve kullanıcı odaklı yapısı sayesinde cihaz, kullanımdan bakıma kadar tüm süreçlerde kolaylık sağlayan, her seviyeden kullanıcının rahatlıkla çalışabileceği pratik ve güvenilir bir analiz aracı sunmaktadır.

Ürün Öne Çıkan Özellikleri

Kompakt Tasarım

JEM-120i, boyutları önemli ölçüde küçültülerek geliştirilmiş kompakt bir tasarıma sahiptir. Bu sayede filament değiştirme noktası ve numune tutucu giriş noktası, önceki nesil cihazlara göre daha alçak konumlandırılmıştır ve kullanıcıya daha ergonomik bir çalışma deneyimi sunar.

Yeni geliştirilen kartuş tipi filament ünitesi, filament değişiminin kolay, hızlı ve güvenli bir şekilde yapılmasını sağlayarak her seviyeden kullanıcının rahatlıkla işlem gerçekleştirmesine olanak tanır.

Cihazın ön panelinde bulunan LED durum göstergesi, TEM'in çalışma durumuna göre farklı renklerde yanar. Böylece kullanıcılar, cihazın çalışma durumunu uzaktan dahi kolayca takip edebilir.

Kolay Kullanım

Basit İşlemlerle Numune Gözlemi

JEM-120i ile numunenin yüklenmesinden gözlemin tamamlanmasına kadar yalnızca 4 adım yeterlidir.

Numune tutucusu yerleştirildikten sonra Başlat (Start) düğmesine basılmasıyla; ivmelendirme voltajının uygulanması, elektron emisyonunun başlatılması ve gözlem için gerekli hazırlık işlemleri otomatik olarak gerçekleştirilir. Aynı anda geniş alan görüntüsü alınır ve kullanıcı, görüntü üzerinde hedef bölgeye tıklayarak numune tablasını doğrudan ilgili konuma taşıyabilir.

Standart olarak sunulan Butler Modu, veri toplama sürecini destekleyerek başlangıç seviyesindeki kullanıcıların bile kolayca yüksek kaliteli görüntüler elde etmesini sağlar.

Gözlem tamamlandıktan sonra ise elektron emisyonunu kapatmaya gerek kalmadan numune tutucusu değiştirilebilir. Bu özellik, çalışma sürecini hızlandırırken verimliliği de artırır.

4 Adımda Numune Gözlemi

Büyütme Modu Değiştirmeden Kesintisiz Gözlem

JEM-120i, gelişmiş TEM kontrol sistemi ve tam otomatik diyafram (aperture) sistemi ile donatılmıştır. Bu sayede büyütme modları arasında geçiş yapmaya veya diyafram seçimi gerçekleştirmeye gerek kalmadan gözlem yapılabilir.

Önceki nesil modellere kıyasla daha akıcı ve verimli bir kullanım sunan sistem, gözlem işlemlerinin kesintisiz ve kolay bir şekilde gerçekleştirilmesini sağlar.

Genişletilebilir Yapı

JEM-120i, farklı ihtiyaçlara yönelik çeşitli donanım yükseltmelerini (retrofit) destekleyen modüler bir yapıya sahiptir. Bu sayede cihaz, satın alma sonrasında ortaya çıkabilecek yeni analiz gereksinimlerine kolayca uyum sağlayabilir ve ek fonksiyonlarla genişletilebilir.

Teknik Özellikler

Özellik

Değer

Çözünürlük

0,20 nm (HC*¹), 0,14 nm (HR*²)

İvmelendirme Voltajı

20 – 120 kV

Büyütme

50× – 1.200.000× (HC*¹), 50× – 1.500.000× (HR*²)

Standart Kamera

NEOView Camera, 4 MP (4 milyon piksel), 30 fps

Opsiyonel Kamera

SightSKY, 19 MP (19 milyon piksel), 58 fps

Kamera Uyumluluğu

Farklı üreticilere ait kameralar da monte edilebilir.

Cihaz Boyutları

Genişlik: 840 mm • Derinlik: 1.734 mm • Yükseklik: 1.782 mm

¹ HC (High Contrast): Yüksek Kontrast konfigürasyonu.
² HR (High Resolution): Yüksek Çözünürlük konfigürasyonu.

Medya

Ürün Videoları

Cihazın çalışma yapısını, kullanım yaklaşımını ve örnek senaryoları videolar üzerinden inceleyin.

Dokümanlar

Ürün Broşürleri

Teknik özetleri, ürün tanıtımlarını ve indirilebilir broşürleri bu alandan görüntüleyebilirsiniz.

Daha Fazla Bilgi
İletişime Geçin

Doğru Çözüm İçin İlk Adımı Atın

Uzman ekibimiz ihtiyaçlarınıza özel çözüm ve tekliflerle en kısa sürede size ulaşsın.

Bu site çerezler kullanmaktadır

Daha iyi bir deneyim sunmak için analitik çerezler kullanıyoruz. Çerez Politikası