Ürün Genel Bakış
JAMP-9510F, nano ve mikro ölçekli bölgelerde kimyasal bağ durumunun yüksek hassasiyetle analiz edilmesini sağlayan, yarım küresel (hemispherical) analizöre sahip yüksek performanslı bir Alan Emisyonlu Auger Elektron Spektrometresi (FE-AES) sistemidir. EPMA sistemlerinde de kullanılan alan emisyonlu elektron tabancası, yüksek ve kararlı elektron akımı sağlayarak üstün analiz performansı ve yüksek uzaysal çözünürlük sunar.
Yüksek hassasiyetli eucentric numune tablası, daha önce analiz edilmesi zor olan yalıtkan malzemelerin güvenilir şekilde incelenmesine olanak tanır. Yüzer tip (floating type) iyon tabancası ile birlikte çalışan sistem; metaller, yalıtkan malzemeler ve farklı numune türlerinde hem elementel bileşim hem de kimyasal bağ yapısı hakkında ayrıntılı bilgiler elde edilmesini sağlar. Bu sayede malzeme karakterizasyonu, yüzey analizi, ince film incelemeleri, yarı iletken uygulamaları ve arıza analizleri gibi ileri araştırma ve kalite kontrol çalışmalarında üstün performans sunar.
Ürün Öne Çıkan Özellikleri
Spektrum Görüntüleme
Yeni geliştirilen Spektrum Görüntüleme (Spectrum Imaging) yöntemi, görüntüdeki her piksel için elektron spektrumlarının elde edilmesini sağlar. Toplanan veriler sayesinde, EDS haritalamaya benzer şekilde görüntü üzerindeki seçilen bölgelerin spektrumları ve element dağılımları ölçüm sonrasında analiz edilebilir.
Bu yöntem, geleneksel Auger haritalamadan farklı olarak geniş bir enerji aralığında veri toplar ve analiz öncesinde haritalanacak elementlerin önceden belirlenmesini gerektirmez. Böylece numunedeki tüm elementlerin tespit edilmesine olanak tanır ve herhangi bir elementin gözden kaçma riskini ortadan kaldırır.
Standart geniş spektrum ölçümlerinde olduğu gibi, ölçüm enerji aralığı ve enerji çözünürlüğü kullanıcı tarafından seçilebilir. Spektrum Görüntüleme teknolojisi yalnızca element analizinde değil, aynı zamanda Yansımalı Elektron Enerji Kayıp Spektroskopisi (REELS) analizlerinde de kullanılabilir. Bu sayede yüzey bileşimi ve elektronik yapı hakkında daha kapsamlı bilgiler elde edilir.
Standart Spektrum Veritabanı ve Pik Ayrıştırma Yazılımı
140 malzemeye ait 500'ün üzerinde standart spektrumdan oluşan kapsamlı bir veri tabanı sunulmaktadır. Gelişmiş pik ayrıştırma (peak deconvolution) yazılımı, üst üste binen Auger piklerini kolayca ayırır ve karmaşık kimyasal durum analizlerinin tek tıklamayla gerçekleştirilmesini sağlar.
Teknik Özellikler
Elektron Aydınlatma Sistemi | Özellik |
|---|---|
SEI çözünürlüğü | 3 nm (25 kV, 10 pA'da) |
Auger analizi için prob çapı | 8 nm (25 kV, 1 nA'da) |
Elektron tabancası | Schottky alan emisyonlu elektron tabancası |
Hızlandırma gerilimi | 0,5 – 30 kV |
Prob akımı | 10⁻¹¹ – 2 × 10⁻⁷ A |
Büyütme | ×25 – ×500.000 |
Auger Analiz Sistemi | Özellik |
|---|---|
Analizör | Elektrostatik hemisferik analizör (HSA) |
Enerji çözünürlüğü (ΔE/E) | %0,05 – %0,6 |
Hassasiyet | ≥ 840.000 cps / 7 kanal (10 kV, 10 nA Cu-LMN, %0,6 çözünürlük, 60° eğimde) |
Not: Teknik özellikler önceden haber verilmeksizin değiştirilebilir.
Ürün Broşürleri
Teknik özetleri, ürün tanıtımlarını ve indirilebilir broşürleri bu alandan görüntüleyebilirsiniz.
