Jeol JSM-IT210 Sem Taramalı Elektron Mikroskobu

Ürün Genel Bakış

Her Türlü Numuneden Kolay Veri Elde Edin

JSM-IT210, JEOL'ün en kompakt sabit tip taramalı elektron mikroskobudur (SEM).

Yeni geliştirilen numune tablası (stage), beş hareket ekseninin tamamında motorlu kontrol sistemine sahiptir. Bu sayede cihazın kullanımı daha güvenli, daha hızlı ve daha verimli hâle gelmiştir.

Bunun yanı sıra, yeni eklenen "Simple SEM" özelliği sayesinde kullanıcı yalnızca gözlem yapılacak alanı seçerek görüntüleme ve analiz işlemlerini otomatik olarak başlatabilir. Böylece SEM gözlemleri ve analizleri çok daha kolay ve hızlı bir şekilde gerçekleştirilebilir.

JSM-IT210, kompakt tasarımı ve operatör müdahalesine ihtiyaç duymadan (unattended) otomatik çalışabilme özelliğiyle yeni nesil bir taramalı elektron mikroskobudur (SEM).

Ürün Öne Çıkan Özellikler

Ekrandaki yönlendirmeleri takip ederek numuneyi yerleştirin.

Vakumlama sırasında gözlem için hazırlık yapın.

Gözlemi otomatik olarak başlatın.

1 Tabla Navigasyon Sistemi (SNS) isteğe bağlı (opsiyonel) bir özelliktir.
2 SNSLS isteğe bağlı (opsiyonel) bir özelliktir. SNS ile birlikte eş zamanlı olarak kullanılabilir.
*3 Hazne Kamerası (Chamber Scope - CS) isteğe bağlı (opsiyonel) bir özelliktir.

Zeromag fonksiyonu, optik görüntüden* SEM görüntüsüne kesintisiz geçiş sağlayarak numune üzerinde gezinmeyi kolaylaştırır. SEM görüntüsü, optik görüntü ve numune tutucu (holder) grafiği birbiriyle bağlantılıdır. Bu sayede analiz yapılan bölgeler tüm görüntüler üzerinde eş zamanlı olarak görüntülenebilir ve analiz konumları bütüncül bir bakış açısıyla kolayca takip edilebilir.

Live Analysis (Canlı Analiz), görüntü gözlemi sırasında EDS spektrumunu veya element haritalarını gerçek zamanlı olarak görüntüleyen bir fonksiyondur. Bu özellik, hedef elementlerin hızlı bir şekilde bulunmasını destekler ve hedef elementler tespit edildiğinde kullanıcıya uyarı vererek analiz sürecini daha hızlı ve verimli hâle getirir.

Simple SEM, birden fazla konumda, farklı gözlem koşulları ve büyütme seviyelerinde görüntü elde etme işlemini otomatik olarak gerçekleştirir.

Yüksek hassasiyetli numune tablası (stage) sayesinde analiz noktaları yüksek doğrulukla yeniden bulunabilir ve aynı konuma güvenilir şekilde geri dönülebilir.

Hızlı Analiz

JSM-IT210'da standart olarak sunulan 60 mm² sensör alanına sahip EDS dedektörü, daha küçük dedektör alanına sahip sistemlerle aynı analiz kalitesini çok daha kısa sürede elde edilmesini sağlar. Buna ek olarak, çok noktalı (multi-point) element analizleri de daha hızlı ve daha verimli bir şekilde gerçekleştirilebilir.

Isıya duyarlı numunelerde kullanım

Küçük alanlı bir EDS dedektörü, analiz için yüksek akım gerektirir. Isıya duyarlı numuneler, ışın maruziyeti nedeniyle hasar görür ve bu durum element haritasını olumsuz etkiler.