Jeol JSM IT810 FE-SEM Taramalı Elektron Mikroskobu

JSM-IT810 Serisi FE-SEM

Çok yönlülük, yüksek uzaysal çözünürlük ve otomasyon özellikleri JSM-IT810 Serisi FE-SEM'de bir araya geliyor.

Kodlama gerektirmeyen görüntüleme ve EDS analiz otomasyonu, iş akışını daha hızlı, verimli ve kullanıcı dostu hale getirecek şekilde sisteme entegre edilmiştir.

Yüksek kaliteli veri elde edilmesini ve gelişmiş bir kullanıcı deneyimini destekleyen yeni fonksiyonlar sunulmaktadır. Bu özellikler arasında:

• SEM otomatik ayar paketi ile hızlı ve doğru sistem optimizasyonu,

• Trapez düzeltme (Trapezoidal Correction) fonksiyonu ile özellikle EBSD ölçümlerinde daha hassas analiz,

• Canlı 3D yüzey rekonstrüksiyonu (Live 3D Surface Reconstruction) ile yüzey topografyasının gerçek zamanlı olarak üç boyutlu görüntülenmesi yer almaktadır.

JSM-IT810 Serisi sayesinde alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobunun (FE-SEM) kullanımı artık her zamankinden daha kolay ve verimlidir.

Otomatik Gözlem ve Analiz Fonksiyonu "Neo Action"

Sadece analiz koşullarını belirleyip ölçüm yapılacak alanları seçerek SEM gözlemi ve EDS analizi otomatik olarak gerçekleştirilebilir. Neo Action fonksiyonu, kullanıcı müdahalesini en aza indirerek analiz süreçlerini hızlandırır, iş akışını standartlaştırır ve daha verimli hale getirir.

Numune: Julesberg (L3.6) kondrit meteoritindeki kondrüller
İniş Gerilimi (Landing Voltage): 5 kV

SEM Otomatik Ayar Paketi

SEM Otomatik Ayar Paketi (Opsiyonel): Bu özellik, özel bir referans numune kullanarak büyütme kalibrasyonu, elektron demeti hizalaması (beam alignment) ve EDS enerji kalibrasyonunu otomatik olarak gerçekleştirir. Düzenli yapılan kontroller sayesinde cihazın optimum performansta çalışması sağlanır ve güvenilir analiz sonuçları elde edilir.

Live 3D Fonksiyonu

Çok segmentli, yarı iletken tip BSE dedektörü kullanılarak numune yüzeyinin gerçek zamanlı 3D rekonstrüksiyonu oluşturulabilir.

Live 3D özelliği sayesinde yüzey topografyası anlık olarak üç boyutlu görüntülenebilir ve numunenin yüzey yapısı hızlı, doğru ve ayrıntılı şekilde değerlendirilebilir.

EDS Entegrasyonu

Yeni nesil kullanıcı deneyimi sunan EDS entegrasyonu, SEM gözlemi ile EDS element analizini tek bir iş akışında birleştirerek iki işlem arasındaki geçişi kolaylaştırır.

Nokta (Point), Alan (Area), Haritalama (MAP) ve Çizgi (Line) analizleri doğrudan gözlem ekranı üzerinden tanımlanabilir ve sıraya alınabilir. Böylece analizler hızlı bir şekilde başlatılarak daha verimli ve kesintisiz bir çalışma süreci sağlanır.