Ürün Genel Bakış
Optik görüntülemenin, SEM görüntülemenin ve EDS Live Analysis'in tek tıklamayla entegrasyonu ile F100 verimliliği önemli ölçüde artırır.
Yeni NeoEngine elektron ışını kontrol sistemi ve gelişmiş otomatik işlevler, performanstan ödün vermeden yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve yüksek akım analizleri arasında hızlı geçişler sağlar. Canlı EDS analizi, görüntüleme sırasında numune kimyasal bileşiminin doğrudan izlenmesini sağlar; ayrıca, kullanıcı F100 kullanıcı ara yüzü içinde hem EDS verilerini (haritalama, satır taraması ya da nokta analizi) ve görüntüleri toplayabilir.
Hızlı ve basit rapor oluşturma için JEOL's SmileView Lab, görüntüleme ve analiz sonuçlarını otomatik olarak bağlar.
Yüksek Mekansal Çözünürlük
JEOL JSM-F100, büyük ışın akımlarını HERHANGİ bir hızlanma geriliminde küçük bir prob boyutuyla birleştirerek, analitik çözünürlüğü büyük ölçüde nanometre ölçeğine yükseltir. İletken olmayan örneklerin görüntülenmesi ve analizi için ve nanoyapıların, örnek yüzey detaylarının, biyolojik örneklerin ve manyetik örneklerin gelişmiş yüksek çözünürlüklü görüntülenmesi için ideal bir platformdur.
JSM-F100 / LV, aşağıdakiler dahil olmak üzere, aynı anda çok çeşitli dedektörleri barındıran geniş bir örnek odasına sahiptir: çoklu EDS, WDS, STEM, BSE ve CL. Yeni bir Yumuşak X-ışını Emisyon Spektrometresi, daha önce görülmemiş kimyasal durum analizini sağlarken, çok düşük enerjili X ışınlarının verimli ve paralel bir şekilde toplanmasını sağlar.
Ürün Öne Çıkan Özellikleri
NeoEngine - akıllı otomatik elektron demeti kontrolü
Işın hizalama, netleme ve damgalama dahil olmak üzere gelişmiş otomatik işlevler
Her iki acemi için ileri düzey kullanıcılar için mükemmel yeni özelleştirilebilir GUI
Enerji filtreli objektiften gelen dedektörler
Lens içi alan emisyon tabancası
Herhangi bir kV veya prob akımında mükemmel çözünürlük için Diyafram Açısı Kontrol Merceği (ACL)
Kiriş Yavaşlama (BD) modu, numunedeki lens bozulmalarının etkilerini azaltır
Çoklu portlara sahip büyük numune odası
Montaj görüntüleri ve temel haritalar
Veri yönetimi ve rapor oluşturma için Smile View Lab
Entegre JEOL EDS elemental ekranlama ile Canlı Analiz
Yüksek uzaysal çözünürlükte görüntüleme ve nano yapı analizi
JSM-F100LV, iletken olmayan numunelerin görüntülenmesi ve mikroanalizi amacıyla düşük hazneli vakumda (10 ila 300 Pa) çalışmayı destekleyen değişken basınç kabiliyetine sahiptir. Yapılandırma geri çekilebilir katı halde geri saçılmış bir elektron detektörü içerir. Yazılım kontrolü sayesinde, hem geri saçılma detektörü hem de LV deliği, hazne vakumu kırılmadan geri çekilebilir. Bu, sınırsız düşük büyütmeli görüntüleme ve HV işleminde maksimum ışın akımı sağlama yeteneğini garanti eden bir JEOL özel özelliğidir.
Düşük vakum modu basıncı | 10 Pa ~ 300 Pa |
Orifis ve BSE dedektörü | Vakumda geri çekilebilir |
Uygulamalar Notlar
Büyütme Üzerine Bir Not
Açıklık Açısı Kontrol Merceği
Enerji Filtreli Görüntüler
JEOL Alan Emisyonu ile Aşırı Alçak Gerilim Görüntüleme
Nazik Kiriş - Alan Emisyonu ile Düşük Voltajı Artırma SEM
Düşük Vakum İkincil Elektron Dedektörü
Nanopix ile SEM'de Çözünürlük
KÖK-in-SEM
Lens İçi Sistem - Lens Sapmalarının Etkilerinin Azaltılmasında Yeni Bir Yaklaşım
Hava İzole Transfer Sistemi
Elektron Uçuş Simülatörü
Elektron Aynası - numune şarjı arkadaşınız olduğunda
Düşük maliyetli STEM
Zavallı Adamın Kriyosu
Kısa WD, Düşük kV BSE
Stereomikroskopi - 3. boyut için arama
Neden SEM için CryoTransfer Sistemi Kullanmalı?
Görüntüleme Grafeni
Makaleler ve Bildiriler
FE-SEM'de Yüksek Sıcaklık Protokolleri Aduro Sistemini Kullanarak Malzemelerin EBSD Analizi
Hata Analizi: Eski ve Yeni
SEM Teknolojisi, Enerji Araştırmalarını Geliştiriyor
Katodoluminesans Üzerine Yeni Işık Tutmak - Bir LV Perspektifi
Düşük kV Görüntüleme Üzerine Bazı Düşünceler