Jeol JSM-7900F FE-SEM Taramalı Elektron Mikroskobu

JSM-7900F Alan Emisyonu SEM, en yüksek çözünürlüklü görüntülemeyi nano ölçekli mikro analiz ile birleştiren benzersiz esnek bir platformdur. Sistem, basit ve otomat

ik işlemlerle hızlı veri toplamanın ötesine geçebilecek şekilde tasarlanmıştır.

Uygulamalar arasında metallerin, manyetik materyallerin, yarı iletkenlerin, seramiklerin, tıp ve biyolojik örneklerin görüntülenmesi ve analizi bulunur.

Bu öncül elektron mikroskopta kalıcı olarak doğruluğu arttıran, her koşulda prop çapını optimize eden ve operatörlerin tüm seviyeleri için gözlem işlemini basitleştiren yeni elektron optik sistemi NeoEngine bulunmaktadır.

Güçlü yeni bir navigasyon sistemi olan Smile Navi ile, operatöre veri toplama süreci boyunca yol gösterir.Kullanıcı, temel SEM operasyon adımlarını kolayca takip edebilir ve bir çevrimiçi eğitim rehberi kapsamlı bir destek sağlar.

· Çözünürlük: 7 Å @ 1kV, 6 Â @ 15kV, STEM'de 6 Â
· Analitik çözünürlük 30 nm alt ölçeğinde
· Prob akımı> 500nA
· Düşük hızlandırma gerilimlerde olağanüstü performans sağlayan yüksek hassasiyetli BE dedektörü
· Ultradüşük kV değerlerinde çalışabilen in-lens dedektörleri
· GBSH-S (GENTLEBEAM ™ Süper Yüksek mod), aşırı düşük hızlanma voltajlarında yüksek çözünürlüklü görüntüleme sağlar (10V'a kadar)
· In-lens Schottky Plus alan emisyonlu elektron tabancası ve düşük aberasyon düzeltici lens ile elektron kaynağından daha yüksek parlaklık seviyeleri sağlar.
· Manyetik malzemelerden yalıtkan örneklere kadar değişen çeşitli numunelerin ultra yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve analizini desteklemek için elektrostatik ve elektromanyetik lenslerin bir kombinasyonu olan Süper Hibrid Lens (SHL) yapısı.
· Düşük prob voltaj değerlerinde, yüksek çözünürlüklü görüntülemeden yüksek hızlı elemental haritalama alanlarına kadar çeşitli uygulamaları destekleyen düşük hızlandırıcı voltaj özelliği mevcuttur.
· Yeni numune değişim sistemi, basit işlemlerle örnekleri güvenli, hızlı ve sorunsuz bir şekilde değiştirmek üzere tasarlanmıştır.

• Çözünürlük: STEM'de 7 Å @ 1kV, 6 Å @ 15kV, 6 Å

• Analitik çözünürlük alt 30 nm ölçeği

• Prob akımı> 500nA

• Düşük hızlanma voltajlarında olağanüstü performans sağlayan yüksek hassasiyetli BE dedektörü

• Ultralow kV lens dedektörleri

• GBSH-S (GENTLEBEAM ™ Süper Yüksek mod), son derece düşük hızlanma voltajlarında (10V'a kadar) yüksek çözünürlüklü görüntüleme sağlar

• Lens İçi Schottky Plus alan emisyonlu elektron tabancası ve düşük sapmalı kondansatör merceği daha yüksek parlaklık seviyeleri sağlar.

• Manyetik malzemelerden yalıtkanlara kadar çeşitli numunelerin ultra yüksek çözünürlüklü görüntülemesini ve analizini desteklemek için elektrostatik ve elektromanyetik lenslerin bir kombinasyonu olan Süper Hibrit Lens (SHL).

• Geniş prob akımı, yüksek çözünürlüklü görüntülemeden yüksek hızlı elementel haritalamaya kadar çeşitli uygulamaları destekleyen düşük hızlanma voltajında ​​mevcuttur.

• Basit bir işlemle numuneleri güvenli, hızlı ve kesintisiz bir şekilde değiştirmek için yeni bir numune değişim sistemi tasarlanmıştır.

7900F / LV, iletken olmayan numunelerin görüntülenmesi ve mikroanalizi amacıyla düşük hazneli vakumda (10 ila 300 Pa) çalışmayı destekleyen değişken basınç kabiliyetine sahiptir. Yapılandırma geri çekilebilir katı halde geri saçılmış bir elektron detektörü içerir. Yazılım kontrolü sayesinde, hem geri saçılma detektörü hem de LV deliği, hazne vakumunu kırmadan geri çekilebilir. Bu, sınırsız düşük büyütmeli görüntüleme ve HV işleminde maksimum ışın akımı sağlama yeteneğini garanti eden bir JEOL özel özelliğidir. Sistem motorlu kaçak valfli otomatik basınç kontrolörü ile birlikte gelir ve kuru azot kullanır.

Uygulamalar Notlar

• Büyütme Üzerine Bir Not

• Açıklık Açısı Kontrol Merceği

• Enerji Filtreli Görüntüler

• JEOL Alan Emisyonu ile Aşırı Alçak Gerilim Görüntüleme

• Nazik Kiriş - Alan Emisyonu ile Düşük Voltajı Artırma SEM

• Grafen Katmanlarını Görüntüleme ve Analiz Etme

• Nanopix ile SEM'de Çözünürlük

• KÖK-in-SEM

• Lens İçi Sistem - Lens Sapmalarının Etkilerinin Azaltılmasında Yeni Bir Yaklaşım

• Düşük Vakum İkincil Elektron Dedektörü

• Hava İzole Transfer Sistemi

• FE SEM JSM-7900F Kullanarak EBSD

• Elektron Uçuş Simülatörü

• Elektron Aynası - numune şarjı arkadaşınız olduğunda

• Düşük maliyetli STEM

• Süper Hibrit Lens Kullanarak Manyetik Malzeme Analizi (SHL)

• Zavallı Adamın Kriyosu

• Kısa WD, Düşük kV BSE

• Stereomikroskopi - 3. boyut için arama

• Neden SEM için CryoTransfer Sistemi Kullanmalı?

• Görüntüleme Grafeni

Makaleler ve Bildiriler

• FE-SEM'de Yüksek Sıcaklık Protokolleri Aduro Sistemini Kullanarak Malzemelerin EBSD Analizi

• Hata Analizi: Eski ve Yeni

• Nanoyapılı Malzemelerin Yüksek Çözünürlüklü Düşük Gerilim SEM Çalışması

• SEM Teknolojisi, Enerji Araştırmalarını Geliştiriyor

• Katodoluminesans Üzerine Yeni Işık Tutmak - Bir LV Perspektifi

• Düşük kV Görüntüleme Üzerine Bazı Düşünceler