Ürün Genel Bakış
JEOL JSX-1000S, dokunmatik ekran üzerinden kolay kullanım sunan ve hızlı element analizi gerçekleştiren bir X-ışını Floresans (XRF) spektrometresidir. Cihaz; kalitatif ve kantitatif analiz (FP yöntemi ve kalibrasyon eğrisi yöntemi) ile RoHS element taraması gibi gelişmiş analiz fonksiyonlarını destekler. Zengin donanım ve yazılım seçenekleri sayesinde farklı analiz ihtiyaçlarına göre özelleştirilebilir ve geniş bir uygulama yelpazesinde kullanılabilir.
Ürün Öne Çıkan Özellikleri
Kolay Kullanım
Numuneyi yerleştirin ve ekrana dokunun; kullanım bu kadar kolaydır. Analiz sonuçları ile spektrum görüntüsü arasında geçiş yapmak için yalnızca ekrana tekrar dokunmanız yeterlidir. Tablet bilgisayar veya akıllı telefon kullanımı kadar kolay ve sezgisel bir deneyim sunar.
(Klavye ve fare ile kullanım da desteklenmektedir.)
Set & Touch Basit Kullanım
Basit ve sezgisel kullanıcı arayüzü (GUI)
Yüksek Hassasiyet ve Yüksek Verimlilik
JEOL’in kendi geliştirdiği SDD (Silisyum Drift Dedektörü) ve yeni tasarlanan optik sistem, tüm enerji aralığını kapsayacak şekilde optimize edilmiş filtrelerle birlikte çalışarak yüksek hassasiyetli analiz imkânı sağlar.
Numune haznesi vakum ünitesi (opsiyonel) ise hafif elementlerin tespit hassasiyetini daha da artırır.
Tüm Enerji Aralığında Hassas Analiz
Maksimum 9 farklı filtre ve numune haznesi vakum ünitesi kullanılarak, tüm enerji aralığında yüksek hassasiyetli analiz gerçekleştirilebilir.
Cl, Cu, Mo ve Sb filtreleri opsiyoneldir.
Örnek: İz element tespiti (10 ppm veya daha düşük)
Çözüm Odaklı Uygulamalar
Önceden kaydedilmiş analiz reçeteleri sayesinde, istenen analizler otomatik olarak gerçekleştirilebilir. Çözüm uygulamaları listesinden ilgili çözüm ikonunu seçmeniz, otomatik analiz ve sonuçların görüntülenmesi için yeterlidir.
Çözüm uygulamaları, geniş bir kullanım alanında basitleştirilmiş ve hızlı analiz imkânı sunar.
Yeni Smart FP (Temel Parametre) yöntemi, standart numune hazırlamaya gerek olmadan yüksek doğrulukta kantitatif analiz sonuçları elde edilmesini sağlar. Ayrıca kalınlık düzeltmesi ve kalan bileşen dengelemesi için otomatik düzeltme fonksiyonlarını içerir.
(Kalan denge düzeltmesi ve kalınlık düzeltme fonksiyonları yalnızca organik numuneler için geçerlidir.)
Teknik Özellikler
Özellik | Teknik Değer |
|---|---|
Analiz element aralığı | Mg – U |
F – U (Opsiyonel) | |
X-ışını jeneratörü | 5 – 50 kV, 1 mA |
Hedef (Target) | Rh |
Birincil filtre (Otomatik değişim) | Standart: OPEN, ND, Cr, Pb, CdOpsiyonel: Cl, Cu, Mo, Sb |
Kolimatör (Otomatik değişim) | 3 tip: 0,9 mm, 2 mm, 9 mm |
Dedektör | Silisyum Drift Dedektörü (SDD) |
Numune haznesi boyutu | 300 mm (Çap) × 80 mm (Yükseklik) |
Numune haznesi atmosferi | Hava / Vakum (Opsiyonel) |
Hazne gözlem sistemi | Renkli kamera |
Kontrol bilgisayarı | Windows® masaüstü bilgisayar, dokunmatik panel ile |
Analiz yazılımı (Standart) | Kalitatif analiz: Otomatik analiz, KLM işaretleyici, toplam pik görüntüleme, spektrum aramaKantitatif analiz: Bulk FP yöntemi, kalibrasyon eğrisi yöntemiRoHS analiz çözümü: Cd, Pb, Cr, Br, HgBasitleştirilmiş analiz çözümleriRapor oluşturma yazılımı |
Günlük kontrol yazılımı (Standart) | Tüp ampul yaşlanma kontrolü, enerji kontrolü, şiddet (intensity) kontrolü |
Not: Windows®, Microsoft Corporation’ın Amerika Birleşik Devletleri ve/veya diğer ülkelerdeki tescilli ticari markası veya ticari markasıdır.
Ürün Videoları
Cihazın çalışma yapısını, kullanım yaklaşımını ve örnek senaryoları videolar üzerinden inceleyin.