Analizin Amacı
Bu analiz, X-Ray Fluoresans (XRF) yöntemi kullanılarak kaplama tabakalarının kalınlık ve bileşim bilgilerini ortaya koyar. Elektronik, otomotiv ve medikal gibi yüksek hassasiyet gerektiren sektörlerde tercih edilir.
Kapsam
- Au, Ag, Ni, Cu gibi yaygın kaplama malzemeleri
- Tek ve çok katmanlı yapılar
- Numune üstünde noktasal ölçüm ve raporlama
Numune Gereksinimleri
Yüzeyin temiz ve düz olması tavsiye edilir. Delikli, kavisli veya çok pürüzlü yüzeylerde ölçüm süresi uzayabilir. Minimum numune ebatı: 10×10 mm. Örnek başına önerilen ölçüm sayısı: 3–5.
Rapor Çıktıları
- Katman bazlı kalınlık (µm)
- İlgili element kompozisyonu (%)
- Ölçüm noktası görsel işaretlemeleri
Not: Tüm içerik demo amaçlıdır. Lütfen gerçek başvuru için Karfo ekibiyle iletişime geçiniz.
Örnek Süre & Termin
Standart analiz süresi: 2 iş günü. Hızlı servis seçeneği mevcuttur.