Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ve Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS) analizlerinin temel prensipleri, numune hazırlama yöntemleri ve analiz sonuçlarının doğru yorumlanması ele alınır. Özellikle metalik malzemelerde yüzey, mikroyapı ve elementel analizlerin değerlendirilmesine yönelik teknik bilgiler sunulur.
Bu Eğitim İçin Talepte Bulunun
Şu anda planlı bir oturum bulunmuyor. Kendiniz veya kurumunuz için talep oluşturun, yeterli talep oluştuğunda veya bir oturum planlandığında sizi bilgilendirelim.