2 Fazlı Yapılar

İki Faz (Siyah-Beyaz) Analiz Raporu

1. Hazırlık ve Uygulama Yöntemi

Faz analizi, malzemenin mikroyapısındaki farklı bileşenlerin hacimsel oranlarını belirlemek için kritik bir süreçtir.

        • Numune Hazırlama: Fazların birbirinden ayırt edilebilmesi için yüzey hazırlığı (kesme, zımparalama ve doğru dağlayıcı seçimi) ASTM E562 standardının gerektirdiği metalürjik hassasiyetle yapılmalıdır. Yüzeyin "ayna parlaklığında" parlatılması esastır.

        • Gözlenebilirlik: Optik mikroskop altında fazlar arasındaki optik kontrastın yüksek olması, yazılımın piksel bazlı segmentasyon başarısı için esastır.

2. Görüntü Analiz Yöntemi

Dubleks paslanmaz çelik gibi yapıların net ayrımı.

        • Yazılım, gri ton eşikleme (thresholding) yöntemi ile iki ana fazı birbirinden izole eder.

        • Hız ve Doğruluk: Manuel "Nokta Sayma Yöntemi" yerine, sistem otomatik piksel ayrıştırma sayesinde tüm görüntü alanını saniyeler içinde işler.

3. Analiz ve Ölçüm Standartları

Analiz süreci, ASTM E562 (Point Count Method) veya ASTM E1245 standartlarına uygun olarak gerçekleştirilir.

        • Kalibrasyon: Ölçüm doğruluğunu garanti altına almak için sistem, NIST izlenebilir mikrometreler ile kalibre edilir.

        • Otomatik İstatistik: Analiz sonucunda her bir fazın yüzdesi, hacimsel oranı ve istatistiksel verileri otomatik olarak hesaplanır.

4. Ekipman Seçimi ve Değerlendirme

        • Objektif Kalitesi: Düz alan düzeltmeli (flat-field) yüksek çözünürlüklü objektifler, faz sınırlarının netliğini korumak için zorunludur.

        • Doğrulama ve Kontrol: Analiz sonuçlarının güvenilirliği için yazılımın sunduğu "tek tek doğrulama" modülleri kullanılmalı; yanlış tespit edilen piksel grupları (örn. parlatma artıkları) analizden ayıklanabilmelidir.

İki Faz (Renkli) Analiz Raporu

1. Hazırlık ve Uygulama Yöntemi

Faz analizi, malzemenin mikroyapısındaki farklı bileşenlerin hacimsel oranlarını belirlemek için kritik bir süreçtir.

        • Numune Hazırlama: Fazların birbirinden ayırt edilebilmesi için yüzey hazırlığı (kesme, zımparalama ve doğru dağlayıcı seçimi) ASTM E562 standardının gerektirdiği metalürjik hassasiyetle yapılmalıdır. Yüzeyin "ayna parlaklığında" parlatılması esastır.

        • Gözlenebilirlik: Optik mikroskop altında fazlar arasındaki optik kontrastın yüksek olması, yazılımın piksel bazlı segmentasyon başarısı için esastır.

2. Görüntü Analiz Yöntemi

Cüruf veya Portland çimento klinkeri gibi yapıların analizi.

        • Yazılım, renk maskeleme yöntemi kullanarak kontrastı düşük fazları renklendirerek birbirinden ayırır.

        • Hız ve Doğruluk: Manuel "Nokta Sayma Yöntemi" yerine, sistem otomatik piksel ayrıştırma sayesinde tüm görüntü alanını saniyeler içinde işler.

3. Analiz ve Ölçüm Standartları

Analiz süreci, ASTM E562 (Point Count Method) veya ASTM E1245 standartlarına uygun olarak gerçekleştirilir.

        • Kalibrasyon: Ölçüm doğruluğunu garanti altına almak için sistem, NIST izlenebilir mikrometreler ile kalibre edilir.

        • Otomatik İstatistik: Analiz sonucunda her bir fazın yüzdesi, hacimsel oranı ve istatistiksel verileri otomatik olarak hesaplanır.

4. Ekipman Seçimi ve Değerlendirme

        • Objektif Kalitesi: Düz alan düzeltmeli (flat-field) yüksek çözünürlüklü objektifler, faz sınırlarının netliğini korumak için zorunludur.

        • Doğrulama ve Kontrol: Analiz sonuçlarının güvenilirliği için yazılımın sunduğu "tek tek doğrulama" modülleri kullanılmalı; yanlış tespit edilen piksel grupları (örn. parlatma artıkları) analizden ayıklanabilmelidir.

İki Faz + Partikül Analiz Raporu

1. Hazırlık ve Uygulama Yöntemi

Faz analizi, malzemenin mikroyapısındaki farklı bileşenlerin hacimsel oranlarını belirlemek için kritik bir süreçtir.

        • Numune Hazırlama: Fazların birbirinden ayırt edilebilmesi için yüzey hazırlığı (kesme, zımparalama ve doğru dağlayıcı seçimi) ASTM E562 standardının gerektirdiği metalürjik hassasiyetle yapılmalıdır. Yüzeyin "ayna parlaklığında" parlatılması esastır.

        • Gözlenebilirlik: Optik mikroskop altında fazlar arasındaki optik kontrastın yüksek olması, yazılımın piksel bazlı segmentasyon başarısı için esastır.

2. Görüntü Analiz Yöntemi

Alüminyum matrisi içinde silikon yapılar gibi bir ana faz ve partiküller.

        • Sistem, ana matris ile içindeki dağılmış partikülleri farklı piksel sınıfları olarak segmentasyona tabi tutar.

        • Hız ve Doğruluk: Manuel "Nokta Sayma Yöntemi" yerine, sistem otomatik piksel ayrıştırma sayesinde tüm görüntü alanını saniyeler içinde işler.

3. Analiz ve Ölçüm Standartları

Analiz süreci, ASTM E562 (Point Count Method) veya ASTM E1245 standartlarına uygun olarak gerçekleştirilir.

        • Kalibrasyon: Ölçüm doğruluğunu garanti altına almak için sistem, NIST izlenebilir mikrometreler ile kalibre edilir.

        • Otomatik İstatistik: Analiz sonucunda her bir fazın yüzdesi, hacimsel oranı ve istatistiksel verileri otomatik olarak hesaplanır.

4. Ekipman Seçimi ve Değerlendirme

        • Objektif Kalitesi: Düz alan düzeltmeli (flat-field) yüksek çözünürlüklü objektifler, faz sınırlarının netliğini korumak için zorunludur.

        • Doğrulama ve Kontrol: Analiz sonuçlarının güvenilirliği için yazılımın sunduğu "tek tek doğrulama" modülleri kullanılmalı; yanlış tespit edilen piksel grupları (örn. parlatma artıkları) analizden ayıklanabilmelidir.

Renkli İki Faz + Partikül Analiz Raporu

1. Hazırlık ve Uygulama Yöntemi

Faz analizi, malzemenin mikroyapısındaki farklı bileşenlerin hacimsel oranlarını belirlemek için kritik bir süreçtir.

        • Numune Hazırlama: Fazların birbirinden ayırt edilebilmesi için yüzey hazırlığı (kesme, zımparalama ve doğru dağlayıcı seçimi) ASTM E562 standardının gerektirdiği metalürjik hassasiyetle yapılmalıdır. Yüzeyin "ayna parlaklığında" parlatılması esastır.

        • Gözlenebilirlik: Optik mikroskop altında fazlar arasındaki optik kontrastın yüksek olması, yazılımın piksel bazlı segmentasyon başarısı için esastır.

2. Görüntü Analiz Yöntemi

Bakır-Nikel alaşımlarında özel çökeltilerin analizi.

        • Özel çökeltiler renk tabanlı segmentasyon ile tespit edilerek ana matristen ayrı istatistiksel raporlanır.

        • Hız ve Doğruluk: Manuel "Nokta Sayma Yöntemi" yerine, sistem otomatik piksel ayrıştırma sayesinde tüm görüntü alanını saniyeler içinde işler.

3. Analiz ve Ölçüm Standartları

Analiz süreci, ASTM E562 (Point Count Method) veya ASTM E1245 standartlarına uygun olarak gerçekleştirilir.

        • Kalibrasyon: Ölçüm doğruluğunu garanti altına almak için sistem, NIST izlenebilir mikrometreler ile kalibre edilir.

        • Otomatik İstatistik: Analiz sonucunda her bir fazın yüzdesi, hacimsel oranı ve istatistiksel verileri otomatik olarak hesaplanır.

4. Ekipman Seçimi ve Değerlendirme

        • Objektif Kalitesi: Düz alan düzeltmeli (flat-field) yüksek çözünürlüklü objektifler, faz sınırlarının netliğini korumak için zorunludur.

        • Doğrulama ve Kontrol: Analiz sonuçlarının güvenilirliği için yazılımın sunduğu "tek tek doğrulama" modülleri kullanılmalı; yanlış tespit edilen piksel grupları (örn. parlatma artıkları) analizden ayıklanabilmelidir.